ディジタルロックインアンプLI5600シリーズ

LI5660

¥693,000 ~(税抜)

  • 4/1価格改定

アプリケーション

光透過量の測定(光源変動のキャンセル)

  • デュアルビーム法
  • レシオ測定
  • 高調波の影響キャンセル 

2周波数同時測定と分数調波測定の機能を併用すると、1台のロックインアンプで、デュアルビーム法(レシオ測定)による光源などの変動補正が可能です。
基準セルの信号で負帰還をかけて、光源強度を安定化することもできます。

参照信号周波数の整数倍(n 倍)、整数分の1(1/m 倍)、分数比(n/m 倍)を設定できるので、ライトチョッパの周波数比に柔軟に対応します。また、整数比の場合、信号ひずみにより発生する高調波成分との区別ができませんが、分数比では高調波の影響を受けません。さらに、10 MHz同期機能を用いて外部の信号発生器と同期すると、任意の2 周波数による検出も可能です。

ホール係数の測定(差周波数の測定)

  • ホール電圧
  • 電流
  • 磁界
  • クロストーク妨害

ホール電圧は、2 信号(電流と磁界)の積に比例し、その周波数は 2 信号の差(および和)周波数になります。

電流と磁界を発生する外部信号源とLI5600シリーズを外部 10 MHz に同期させた場合(実線)

異なる任意の 2 周波数に対して、外部参照信号(差周波数)を用意せずとも、差周波数信号の測定が可能となります。(2チャネル出力と周波数基準出力を装備した信号発生器を使用の場合など)

もとの周波数が整数比の場合(点線)

分数調波測定機能を利用して差周波数信号を測定することもできます。
どちらでも、外部参照信号からのクロストーク妨害を避けられます。

関連技術用語集

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