株式会社エヌエフ回路設計ブロック
計測なんでもHOTLINE 0120-545838
Google

インピーダンスアナライザ

新製品インピーダンスアナライザ

ZA57630

特長

用途にあわせた多彩な機能を搭載!
DUTの特性に最適な設定により、再現性の高い、正確な測定をサポートします。

正確な評価は、実際に使われる動作条件で。

 

電子部品や電子材料は測定周波数や印加される信号レベルなどによって異なる特性を示すことがあります。
コンデンサやインダクタは寄生成分による周波数依存性があり、ダイオードなどの半導体デバイスはDCバイアス重畳により特性が変化します。
真の特性を評価するには、周波数、AC振幅、DCバイアスをスイープさせ、実際の動作条件化で測定することが重要です。

スイープ   周波数、AC振幅、DCバイアス、 ゼロスパン

AC振幅スイープ

image

周波数スイープ

image

DCバイアススイープ

image

ゼロスパン

周波数、AC振幅、DCバイアスのバラメタを変更せずに一定の条件で測定し、
時間による特性の変化を観察(横軸:時間)

スポット測定にも対応

一定の周波数/AC振幅/DCバイアスで測定し、測定結果は数値表示。最大6項目を設定可能です。 コンバレータ機能と組み合わせて、選別や良否判定を行うことができます。

image

生産ラインにおける測定に

 

測定条件等の設定

詳細設定は1画面で直感的に

設定項目 (SETTING VIEW)

image

グラフ軸設定

image

周波数設定

image
 

測定レンジ

オートレンジ

測定結果を監視しながら、最適なレンジを自動設定して測定します。 レンジを超える外来ノイズや直流成分を検出した場合には、大きなレンジに設定し直して、 再測定が行われます。測定データの変化が大きい場合に有効です。

固定レンジ

測定レンジ固定のため、レンジ変化に伴う測定値の不連続(段差)が生じません。

 

遅延機能

スイープの進行において周波数やAC振幅などのスイープパラメタが変更されると、 過渡応答によって測定結果に誤差が生じます。パラメタ変更後、測定開始までの時間を遅延することができます。 測定の開始時に遅延する「測定開始遅延」とスイープ中のパラメタ変更ごとに遅延する「測定遅延」があります。

 

自動高密度スイープ

周波数スイープ測定において、測定データが急変する区間だけ、自動的に周波数密度を上げて測定する機能です。 圧電振動子や水晶振動子等の共振特性測定において、位相が急激に変化する共振付近の測定に有効です。

 

誤差補正

正確な評価には、測定誤差要因に応じた補正を。

正確な測定をするためには、残留インピーダンスやケーブル長などの各種測定誤差要因を適切に補正することが必要です。

オープン補正

開放時の浮遊アドミタンスによる誤差を補正

ショート補正

短絡時の残留インピーダンスによる誤差を補正

ロード補正

既知の値を持つ試料を標準インピーダンスとして、 真値からのずれを補正

ポート延長

長いケーブルを使用したときに、伝搬遅延時間で発生する位相誤差を補正

電位勾配除去

測定信号に含まれる電位変動波形の影響を除去。 電池などの充放電に伴う電位変化がある試料の測定に有効

イコライズ

外部に接続したセンサやケーブルなどの測定系の周波数特性を あらかじめ測定し、測定系の誤差分を補正

入力重み付け

プローブの減衰量やプリアンプのゲインを補正

セルフキャリブレーション

自己誤差の補正

 

マーカ操作

表示されるグラフのX, Y1, Y2の測定値を読み取る機能です。 最大8マーカを使用可能です。

Δマーカ 基準マーカ(マーカ1)との差分を表示

ΔTRKGマーカ

Δマーカ同様に差分を表示し、マーカ1を移動した場合、 スイープ値の差分を一定に保ちながら移動

マーカサーチ機能 設定条件に合致する点を自動的にサーチ可能

image

 

シーケンス測定

あらかじめ必要な測定条件を複数設定しておき、その条件にて順次測定していく機能です。 スイープ範囲を最大32分割して、各範囲で異なる測定条件で測定できます。 電圧値により特性が変化する積層セラミックコンデンサ(MLCC)、 インダクタやトランスなどを効率よく測定できます。

 

グラフ表示

SINGLE表示/SPLIT表示

1画面1グラフの“SINGLE”と上下にグラフを2つ表示する“SPLIT”を選択可能

位相表示操作

±180°、0°〜+360°、−360°〜0°、UNWRAP(連続表示)、360°シフト, アパーチャ(群遅延特性)

トレース操作

測定データトレース(MEAS)と最大8本の参照データトレース(REF)を重ね書き可能

オートストア

スイープ測定が終了したら、MEASトレースをREFトレースに自動でコピーする機能。時間とともに変化する特性の観測に有効です。

image
 

共振点追尾測定

共振を有する試料の測定において、測定周波数を試料の共振周波数に自動追尾する機能です。 試料に振幅依存性がある場合や時間変化で共振周波数が変動する場合でも、常に共振周波数と一致した測定が可能です。
圧電素子の共振点近傍での連続測定に便利な機能です。

image

 

等価回路推定

周波数スイープ測定で得たインピーダンス特性を等価回路モデルに当てはめ、 LCR素子の値(インダクタンス値、静電容量値、抵抗値)を求める機能です。 以下の6種類のモデルが用意されています。
等価回路推定結果は、CSV形式で保存できます。

等価回路モデル

image
 

圧電定数算出

圧電セラミックスの周波数−インピーダンス特性を測定して、 電気機械結合係数や圧電定数などを算出する機能です。 JEITA規格 『EM-4501A 圧電セラミック振動子の電気的試験方法』に準じた方法で、パラメタを算出しています。

測定結果表示

image

定数算出画面

image
 

比誘電率測定

試料の寸法などの情報をあらかじめ設定して、インピーダンス測定結果(Cp, Rp)を複素比誘電率に換算して表示できます。
●比誘電率 εs ●比誘電率実部 εs´ ●比誘電率虚部 εs´´ ●損失率 Dε

εs´ − εs´´

image

εs − Dε

image
 

比透磁率測定

試料の寸法などの情報をあらかじめ設定して、インピーダンス測定結果(Ls, Rs)を複素比透磁率に換算して表示できます。
●比透磁率 µs ●比透磁率実部 µs´ ●比透磁率虚部 µs´´ ●損失率 Dµ

µs´− µs´´

image

 

µs − Dµ

image
 

生産ラインに!

測定速度 最速 0.5 ms/point でタクトタイム短縮、 さらに部品選別機能も充実!!

コンパレータ・ハンドラインタフェース

コンパレータは、測定結果に対して判定範囲をあらかじめ設定し、 試料を選別するための分類や合否判定をする機能です。

コンパレータ設定画面

image

ビン判定

測定結果を、最大14通りに分類する機能です。

image

リミット判定

測定結果を設定した範囲で合否判定する機能です。

image

ゾーン判定

スイープ測定結果を、X軸(スイープパラメタ)とY1・Y2軸(測定結果)の2次元で合否判定する機能です。

image

 

 

ハンドラインタフェース

コンパレータの判定結果を背面パネルに装備しているハンドラインタフェースコネクタに出力できます。 部品ハンドラを接続することで、部品の自動判別システムを構築できます。

image

 

外部基準クロック

外部の 10MHzクロック信号を基準クロックとして使用できます。 内部基準クロックより高精度の基準クロックを使用することにより、 測定周波数の確度や安定度を向上することができます。 また、他の機器と共通の基準クロックを用いることで、 周波数確度を共通にすることが可能です。

image

背面パネルに装備

 

メモリ操作

測定条件および測定データは、内蔵メモリまたはUSBメモリに保存・読み出しが可能です。

 

 

 

電気化学インピーダンス特性測定に

電池の内部インピーダンス測定など、様々な電気化学インピーダンス測定に対応した機能を装備。

  • 超低周波10µHzから測定可能
  • 電位勾配除去機能により、充放電に伴う電位変動の 測定への影響を抑制
  • 0° SYNC機能により、測定周波数を位相0° で変更して、 測定前後の試料への電荷移動量をゼロに。
  • 測定同期駆動機能により、測定中のみ信号を出力することで、 信号印加に伴う電池への負担を最小限に。