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周波数特性分析器

新製品

周波数特性分析器

FRA51615

特長

高精度な測定を実現する信頼のスペック&機能 

測定周波数 10μHz〜15MHz

10μHzの低周波から15MHzをカバー。分解能も10μHzに向上しています。電気化学インピーダンス測定に必要な超低周波に対応しています。

測定速度 0.5ms/point

スイープ速度は、最速0.5ms/pointと高速です。製造ラインにおけるタクトタイム短縮に貢献できます。
※従来モデル(FRA5097)では、約20ms/point

基本確度 振幅±0.01dB, 位相±0.06°

ディジタルフーリエ演算方式と自己校正機能により、常に高い精度で測定します。従来モデルに比べ、振幅・位相ともに確度が向上しています。
※確度は測定条件により異なります。

ダイナミックレンジ 140dB

高分解能A/D変換器と測定周波数ポイントごとに測定レンジを最適化するオートレンジ機能により、広いダイナミックレンジを確保。測定中の変化に対しても、確実に測定することができます。

アイソレーション 600V CATⅡ 300V CATⅢ

発振器出力(OSC)と2つの分析入力(CH1/ CH2)は、筐体および端子間相互にアイソレーションされており、絶縁定格は600V CATⅡ または 300V CATⅢです。
高電圧ニーズが高まるインバータやPFC回路など、電源回路のループ・ゲイン測定をはじめ、その応用範囲はますます広がります。

オートレンジ

入力信号のレベルに追従し、最適なレンジに設定しながら測定します。レンジを超えるノイズを検出したら、大きなレンジに自動設定して再測定。測定データは、レンジ飽和を起こしていないデータとなります。レンジ変化に伴う測定値の不連続を解消するために、固定レンジを選択することも可能です。

自動高密度スイープ

最大20,000点の高密度測定に対応し、測定データが急変する区間だけ、自動的に周波数密度を上げて測定します。

振幅圧縮機能

被測定系の飽和や破損を防ぐため、被測定系の振幅レベルが一定になるよう発振器のレベルを制御します。

積分機能

ノイズの影響を取り除いて測定するためのデータ積分機能です。
測定を繰り返す期間は、サイクル数または時間で設定します。

自動積分機能

ノイズによる測定変動分が、設定した値以下になるまで積分を繰り返す機能です。

遅延機能

周波数変更時の過渡応答による誤差を軽減するため、測定開始までの時間を遅延する機能。スイープまたはスポット測定開始時のみ、測定開始までの時間を遅延する機能も追加になりました。

微分・積分演算機能

測定データの時間領域における微分/二階微分/積分/二重積分を行う機能。加速度センサやレーザドップラ振動計からの信号をスイープしながら演算し、変位/速度/加速度に変換して表示。

インタフェース

GPIB, USB, LAN, RS-232, VGA
GPIB, USB, LAN, RS-232インタフェースを標準装備。
自動計測システムの構築が可能です。
また、背面に外部モニタとして、VGAコネクタを装備しました。
その他の出力コネクタ等は、右の背面写真の説明をご覧ください。
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測定作業の効率アップ!便利な新機能満載! 

シーケンス測定機能新

設定メモリの内容を番号順に読み出してスイープ測定を行う機能です。
1スイープで、周波数範囲を最大20分割して、各々の周波数範囲で異なる振幅、積分設定などで測定できます。
フィルタや圧電素子など、特定の周波数範囲を高密度に測定したい場合、積層セラミックコンデンサ(MLCC)、インダクタやトランスなどのバイアス依存性のある部品の測定などに便利です。

 
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フィルタの通過帯域測定
必要な周波数範囲のみ測定
 
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MLCCの静電容量測定
同じ周波数範囲で、測定条件を変更して測定

マーカサーチ機能新

マーカを移動させて値を読み取るほか、設定した条件に合致する点を自動的にサーチすることができます。

 

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群遅延測定新

フィルタなどの電子回路の波形の再現性評価に用いられる群遅延(GD: Group Delay、入出力間の位相を角周波数で微分)を表示できます。

 

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周波数変化時位相制御新

発振器出力信号の位相が0°のタイミングで周波数を変更します。これにより、周波数スイープ開始から終了の間の直流分がゼロになりますので、電池のインピーダンス測定において、充放電状態が変化しません。また、ハイパスフィルタ(HPF)の周波数特性測定においては、直流による過渡応答が生じません。

誤差補正

オープン/ショート/ロード補正、ポート延長機能、電位勾配除去機能、イコライズ

  • オープン補正/ショート補正
    開放時の浮遊アドミタンス、短絡時の残留インピーダンスによる測定誤差を補正します。(インピーダンス測定)
  • ロード補正新
    既知の値を持つ試料を標準インピーダンスとして誤差を補正します。(インピーダンス測定)
  • ポート延長機能新
    長いケーブルを使用したときの伝搬遅延時間による誤差を補正します。(インピーダンス測定)
  • 電位勾配除去機能新
    測定信号が正弦波とランプ波(電位変動波形)で構成されていると仮定して、正弦波とランプ波の各々の大きさと位相を個別に検出。
    電池などの充放電に伴う電位変化の影響を取り除きます。(インピーダンス測定)
  • イコライズ
    外部に接続したセンサやケーブルなどの測定系の周波数特性をあらかじめ測定し、測定系の誤差分を補正します。(ゲイン・フェーズ測定)
    ※各々(  )内の測定で用いる補正機能です。

グラフ表示

  • SPLIT表示新
    1画面1グラフの“SINGLE”と上下にグラフを2つ表示する“SPLIT”を選択可能です。
  • データトレース新
    参照データトレース(REF)と測定データトレース(MEAS)を重ね書き可能です。
 
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  • 位相UNWRAP表示新
    0°、180°、360°で折り返さず位相を連続表示します。
    ±360°を超える位相の表示も可能です。
 
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