株式会社エヌエフ回路設計ブロック
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   電子部品:カスタム製品
     

 

   評価試験

耐環境性・高信頼性を要求される航空・宇宙向けなどの製品に対して、MIL規格準拠の評価試験対応が可能です。 

 

 

   代表的なJIS、MIL規格

 

   

 

 


 

   定加速度試験装置
 

試料の定加速度に対する影響を評価する装置です。 本装置を使った試験では、陸上輸送機・航空機・ロケットや回転機器等に使用される電子部品及び半導体製品の定加速度に対する影響を評価することで、 他の振動・衝撃試験では検出できない構造上・機械的欠陥の検出が可能です。

 

  ■ 試験規格
 

 
 MIL-STD-883  Method 2001
 MIL-STD-750  Method 2006
 

 

 

   PIND試験装置 (微粒子衝撃雑音検出装置)
 

中空構造の部品内部に存在する、異物の有無を検出・判定し、異物混入によるショート事故等を未然に防ぐための試験装置です。


PIND試験(微粒子衝撃雑音検出)とは、ハイブリッドIC等に衝撃と振動をかけて、部品内部の異物がパッケージ内部に衝突する際に発生する音を検出する試験装置です。宇宙向けハイブリッドICの他、半導体デバイスの信頼性評価試験などニーズが広がっています。

 

  ■ 試験規格
 

 
 MIL-STD-883  Method 2020
 MIL-STD-750  Method 2052
 

 

 

   リーク試験装置

 

中空構造の部品の封止、主に溶接の密閉性を評価・判定し、運用・保管状態での部品劣化を防ぐ試験をします。

 

  ■ 試験規格
 

 
 MIL-STD-883  Method 1014
 
 
 

 

 

   冷熱衝撃試験装置

 

試料の温度変化に対する影響を評価する装置です。 低温に冷却された空気(-65℃~0℃)と高温に加熱された空気(60℃~200℃)を短時間で交互に繰り返し曝露し、温度変化により繰り返し発生する熱膨張・収縮応力による影響を評価します。

 

  ■ 試験規格
 

 
 MIL-STD-202  Method 102
 MIL-STD-883  Method 1010
 MIL-STD-750  Method 1051
 

 

 

   恒温・恒湿試験装置

 

恒温恒湿槽(低温・高温・湿度制御)、恒温槽(低温・高温温度制御) で、製品・部品の低温・高温試験、温湿度サイクル試験などが可能です。
温湿度範囲 : -70~+150℃, 20~98%RH