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お知らせ:セミナー

FRAセミナー

ゲインフェーズ分析器を使ったスイッチング電源の安定性評価

受講料無料

 

FRA51602 

FRA51602

 

 

 

 スイッチング電源のループ利得特性を測定することで、その安定性を定量的に評価することが可能です。ゲイン・フェーズ分析器は、広いダイナミックレンジや優れたノイズ除去特性により、ループ利得測定に使用されています。
本セミナーでは、新発売のゲイン・フェーズアナライザFRA51602の特長をご紹介するとともに、実際の電源回路を測定するデモンストレーションを交えて、測定方法をわかりやすく解説します。  

 

開催日時

開催日 時間 セミナー 会場 定員
2017/10/4(水)

13:30~15:15

(受付は13:15)

ゲインフェーズ分析器を使った

スイッチング電源の安定性評価

池袋

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30名

※15:30~17:00に「周波数特性分析器(FRA)を使ったインピーダンス測定 」を同日開催します。
お時間に余裕のある方は、続けて受講してください。 

プログラム

  • ゲインフェーズ分析器とは? 
  • スイッチング電源の安定性評価手法 
  • ループゲイン特性測定方法~位相余裕と利得余裕 
  • 測定デモンストレーション【新製品 FRA51602を使用します】  
    ~ループゲイン特性実測
 セミナー終了後に、お客様個別のご相談・ご質問を承ります。

 

受講対象 

FRAの導入を検討している方
これからFRAを用いたスイッチング電源の評価を行う予定の方
スイッチング電源の評価手法に課題を抱えている方

 

定員

30名

 

会場

株式会社エヌエフ回路設計ブロック 池袋セミナールーム別窓で開く

〒171-0021 東京都豊島区西池袋3-1-13  明光ビル8階

(池袋駅 徒歩3 分、池袋警察署向い)

 

受講料

無料

 

お申込み方法

下記の専用フォームからお申込みください。

(グループで参加希望の場合、申込フォームのご要望欄にその旨と人数を記載の上、代表者のみお申込み下さい。)

お申込み

  

お問い合わせ先

 株式会社エヌエフ回路設計ブロック

 フリーダイヤル: 0120-545838
 TEL: 045-545-8111 FAX: 045-545-8191